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产品简介:分体化传感器涂层测厚仪,测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度。
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产品名称:CM-8826涂层测厚仪(分体化传感器涂层测厚仪)
产品信息:
功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度
测量方法:F 磁感应 NF 涡流
测量范围:0-1250um/0-50mil (标准量程)
最小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
分辨率:0.1/1
最小测量面积:6mm
最薄基底:0.3mm
自动关机
使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH
准确度:±(1-3%n)或±2.5um
公制/英制:可选择
电源:4节7号电池
电池电压指示:低电压提示
外形尺寸:126X65X27mm
重量:81g(不含电池)
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