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产品名称：博大精科 微区XRF400黄金首饰分析仪
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产品介绍：

 X射线荧光（XRF）光谱法已经被确定为贵金属首饰无损检测的一种方法（GB/T180043-2000）。普通的XRF分析仪的照射区域比较大，因此不适用于精微细小、形状复杂、甚至镶嵌珠宝或其它贵金属的首饰。微区XRF分析仪将一束初级X射线集中照射在很小的区域内（专利ZL94 1 12117.8），采用激光定位技术（专利ZL 97 2 35392.5），方便地选择首饰上任意部位进行精确测量。

 随着贵金属首饰行业的发展和黄金市场的开放，对XRF分析仪提出更新更高的要求。根据广大用户的希望和要求，凭借其雄厚的技术优势，对原来的黄金首饰分析仪进行重大的技术改进，目标是在保证微区分析特点和分析精密度的基础上，使仪器更小，更轻，性能更可靠，使用、搬运和维修更方便，价格更便宜。与原来的仪器相比，新一代的微区XRF400黄金首饰分析仪具有以下技术改进：

　　1．仪器采用模块式结构，由高压油箱、高压电源、探测系统、探测器电源、三维样品台、激光定位器、控制电路、多道分析器八个模块紧凑地组装在机箱内。每个模块可以很方便地装卸和更换。
　　2．高压油箱采用金属密封，不仅体积小、重量轻，易于搬运，而且使高压绝缘油与空气隔绝，从而提高X 光源的可靠性。高压油箱底部的定位孔使安装准确而方便。
　　3．在激光定位专利技术ZL97 2 35392.5的基础上，又发明了双激光定位技术，实现三维定位，使用时不仅可以方便地选择首饰上任意部位进行测量，而且可以方便地调节样品的高度，保证测量精密度。
　　4．三维样品台的结构紧凑，移动平稳，X-Y二维移动由一个手控制，操作方便。降低了样品台的最低点，最大的被测样品高度增加。  
    5．探测系统中使用ZNJ30正比计数器，能量分辨率改善20%，平均使用寿命提高一倍。  
　　6．仪器体积缩小到原来的48%，仪器重量减轻到原来的41%。  
　　7．计算机软件也有重大改进，对金饰品能定量计算金、银、铜、锌、镍五种元素的含量；对铂饰品能定量计算铂、钯、银、铜、镍五种元素的含量；对银饰品能定量计算银、铜、锌、镍四种元素的含量。能够自动识别镀金和K金饰品，镀白和铂金饰品等。 
　　8．仪器成本下降，售价比原来仪器下降20%。

与原来仪器相比，新产品微区XRF400黄金首饰分析仪的不足之处是： 
　　1．三维样品台的移动距离比原来小，它的最大荷重也较小。
　　2．测量区域由原来的Φ0.5mm增加到Φ0.7mm。如果要维持Φ0.5mm或者更小，测量时间要相应增加。

微区XRF黄金首饰分析仪的主要参数