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产品名称：博大精科 x-3680 黄金检测仪
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商城价：咨询
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详细简绍：
 
X-3680贵金属检测系统简介
 

X-3680是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，高分辨率电制冷Si-pin半导体探测器为探测单元，多种准直器与滤波片，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。

仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调，检测精度从PPM级别到千分之一级别。

X-3680贵金属检测系统组成
 

X-3680贵金属检测仪一台
密度检测仪一台
贵金属分析软件一套
密度分析软件一套
 

X-3680贵金属检测系统整体技术参数与指标
 

1. 分析元素范围：从铝（13号元素）到铀（92号元素）

2. 元素分析含量范围：1ppm到99.99%

3. 元素同时分析能力：26种元素

4. 测量样品型态：固体，粉末，液体

5. 探测器：美国AMPTEK原装进口Si-Pin探测器，探测面积6mm2分辨率139eV

6. X光管：W靶X光管，对金银铂钯等贵金属激发效率更高

7. 高压电压：稳定的高压电源，最大功率50W，50kV,1mA

8. 滤波片：4种滤波片与准直器自动切换

9. 放大器：自主研发的新型放大器，提高信噪比。

10. 密度检测系统：密度检测仪及检测软件一套，可以对样品的密度进行准确分析鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析（本系统具有唯一专利性）

11. 镀层检测：仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测，并得出准确结果（使用者可以根据需求进行二次开发）

12.样品成像定位系统：内置自感光摄像头及先进的定位软件，方便样品的局部定位测量

13.测量精度：以黄金样品为例

高含量样品 （含量在97%以上）误差±0.1%

中高含量样品（含量在75%以上）误差±0.1%-0.3%

低含量样品 （含量在75%以下）误差±0.3%

可区分黄金99.9%与99.99%。

14.测量时间：60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果

15.测量次数：任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量

16.定量分析方法：基本参数法，理论Alpha系数法，经验系数法，多元回归法等（国内同行业率先采取此类综合计算方法）

17.定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等

18.操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，真正实现零费用升级，使一机多能。

19.操作模式：一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式，满足不同测试单位和测试人员的要求

20.银铜双峰位校准：银，铜双峰位同时校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到最高精度（同行业中唯一采取此校准方法）

21.峰位自调系统：实时监测系统状态，当仪器峰位有所偏移时，软件可自动调试恢复仪器到正常测量状态（同行业中唯一采取软件峰位自调系统）

22.三重防辐射系统：配备光电快门装置，更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢.

23.温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，最大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确

24.硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性

25.超大样品仓：方便大型样品的检测

26.测试报告：测试报告根据客户要求独立设计

27.其他应用：可加ROHS、卤素等有毒有害物质的检测程序

28.精确测量黄金铂金当中的铱元素，可测量2%左右的铱含量，领先国内竞争对手！

X-3680贵金属检测系统硬件技术规格
 

1. 外型尺寸：600mm×530mm×330mm

2. 可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm，开仓测量：无限大

3. 仪器重量：50公斤

4. 工作环境温度：10—30℃

5. 工作环境相对湿度：≤80%

6. 元素分析范围：铝（Al）——铀（U）

7. 含量分析范围：1PPM——99.99%

8. 测量时间:60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。

9. 激发源：低功率X射线管

10.高压电源：稳定的长效高压电源

11.探测器：美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器

12.整机分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率为165±10eV（完全符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 18043--2008最新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求）。

13.多道分析器：2048道

14.工作电源：交流220V  50Hz

X-3680贵金属检测系统进口探测器性能指标
 

1. 生产厂商：美国Amptek公司

2. 探测器类型：电制冷Si-PIN

3. 探测面积：6mm2

4. 硅活化区厚度：500um

5. 探测器分辨率：对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为139eV

6. 探测器窗口：铍窗，12.5um厚

X-3680贵金属检测系统高压电源规格
 

1. 生产厂商：威斯曼公司

2. 电压和电流从零至满量程连续可调：最大50KV，1mA

3. 电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程0.01 %

4. 线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程0.01%

5. 电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%

  线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程0.01%

6. 稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%

7. 温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%