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产品简介:适合于检测灯等有复杂构造的产品。
检测高密度的塑料产品,如隐形眼镜等。
检测光学晶体,如氟化钙(萤石)等。
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产品名称:日本折原 LSM-4400LE 偏光应力仪
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产品描述:
适合于检测灯等有复杂构造的产品。
检测高密度的塑料产品,如隐形眼镜等。
检测光学晶体,如氟化钙(萤石)等。
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详细参数:
型号 |
LSM-4400LE |
尺寸 |
W280×D375×H460mm |
重量 |
10KG |
测样有效长度 |
W200×D200mm |
测定空间高度 |
31-250mm |
光源 |
LED灯 |
电源 |
交流220V |
附件 |
应力方向确认棒 清洁液1瓶 波长检板 2个 |
规格:
1、偏光应力仪光场亮度≥120cd/m2(荧光灯30W)
2、偏光应力仪偏振元件任何一点的偏振度大于等于百分之九十九
3、该款应力仪偏振场200*200mm
4、偏光应力仪构造:检偏镜和起偏镜之间分别置入1/4波片及全波片(波长为565nm),波片的慢轴与起偏镜的偏振平面成90度
5、检偏镜最上面有旋转角度的测量装置(刻度值为1度,最大测量范围为180度)
检测方法:
1. Crossed Nicols 观测法
2.Sensitive Color Method 感光色检测法
3. SenarmonMethod 补偿法
Senarmont补偿法可以进行应力定量分析检测。打开电源,未放样品整个视野范围是黑褐色的,放入样品,不旋转检偏镜,观测出最亮点即为应力最大点。旋转检偏镜上的刻度盘,直至最亮点变成黑褐色,记录此时刻度盘旋转的角度及该点的厚度,即可用公式换算出应力值。
计算公式:计算公式:应力=光程差/(被测点的光路长 * 光弹系数)
Mpa =nm/[cm * (nm/cm)/Mpa]
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